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美國MAS超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀科普

更新時間:2024-09-30      點擊次數(shù):164

  隨著納米技術(shù)和材料科學(xué)的發(fā)展,對顆粒尺寸、形態(tài)及其表面性質(zhì)的研究變得尤為重要。美國MAS公司推出的超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀,為科研人員提供了一種全新的測量手段。本文將對該分析儀的可測量參數(shù)及主要特點進行簡要介紹。

  可測量參數(shù)

  該分析儀能夠提供一系列關(guān)鍵參數(shù)的測量,包括但不限于:

  粒度分布:評估顆粒大小的變化范圍,有助于理解材料的均勻性。

  固含量:測定溶液中固體顆粒的百分比,對控制產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。

  Zeta電位:反映顆粒表面帶電情況,影響顆粒間的聚集與分散行為。

  等電點(IEP):指顆粒表面電荷為零時的pH值,影響顆粒穩(wěn)定性。

  電導(dǎo)率:測量溶液傳導(dǎo)電流的能力,與離子濃度相關(guān)。

  pH值:表示溶液酸堿度,影響顆粒表面電荷狀態(tài)。

  溫度:影響顆粒的行為和反應(yīng)速率。

  聲衰減:評估介質(zhì)吸收聲波的能力,與顆粒濃度和粒徑有關(guān)。

美國MAS超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀科普.jpg

  主要特點

  多組分分析能力:能夠同時分析多種分散物質(zhì)的混合體,為復(fù)雜體系的研究提供了便利。

  等電點測定:無需依賴雙層理論模型,直接測定等電點,提供更準(zhǔn)確的結(jié)果。

  適應(yīng)性強:適用于高導(dǎo)電性體系,拓寬了儀器的應(yīng)用范圍。

  抗干擾性強:能夠排除雜質(zhì)的影響,減少樣品污染對結(jié)果的影響。

  無水體系測量:支持對無水環(huán)境中的樣品進行測量,滿足特定研究需求。

  多頻電聲技術(shù):采用多頻電聲方法測量Zeta電位,無需預(yù)先知道顆粒尺寸。

  高濃度樣品直接測量:允許對高達(dá)60%體積比的高濃度樣品進行直接測量,避免了因稀釋帶來的誤差。

  自動滴定功能:具備自動電位滴定功能,簡化了實驗操作流程。

  美國MAS超聲電聲法納米粒度及ZETA電位分析儀以其技術(shù)優(yōu)勢,成為了研究納米顆粒及其分散體系的重要工具。它不僅可以應(yīng)用于基礎(chǔ)科學(xué)研究,還能服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,為新材料的研發(fā)與應(yīng)用開辟了新的途徑。


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