使用ZA500高濃度電位分析儀的優(yōu)勢(shì)在哪里
超聲法原理測(cè)試樣品的顆粒分布是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播,由于不同大小粒徑對(duì)聲波的吸收、散射作用不同,導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系,得到顆粒的粒度。ZA500,ZetaAcoustic結(jié)合Zeta電位分析儀、聲波、電聲測(cè)量三合一很強(qiáng),高的分辨率,免稀釋Zeta電位分析。MAS應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅(ESA)技術(shù)用于高百分比之固體Zeta表面測(cè)量。MAS將其專業(yè)知識(shí)應(yīng)用在Zeta電位和粒度分析儀器的設(shè)計(jì),使其成為MA...毛細(xì)管高分辨納米粒度儀的設(shè)計(jì)原理簡(jiǎn)單而有效
毛細(xì)管高分辨納米粒度儀通過光散射的方法,利用散射光的強(qiáng)度和角度來(lái)測(cè)量納米級(jí)別顆粒的尺寸。它的原理簡(jiǎn)單而有效,使用特定的算法處理測(cè)量數(shù)據(jù),得到顆粒的尺寸分布曲線。這些數(shù)據(jù)可以通過軟件進(jìn)行處理和分析,以得到更詳細(xì)的顆粒尺寸信息。還可以根據(jù)散射光的角度來(lái)計(jì)算顆粒的尺寸。顆粒的尺寸越大,散射光的角度就越小。通過測(cè)量散射光與激光束的夾角,可以得到顆粒的大小。這種方法相對(duì)于測(cè)量散射光的強(qiáng)度,不需要將尺寸與強(qiáng)度的關(guān)系進(jìn)行標(biāo)定,因此更為簡(jiǎn)便。毛細(xì)管高分辨納米粒度儀使用中的常見問題及注意事項(xiàng):...電話
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